I. Publikacje w czasopismach:

1.    Bartosiński B.: Zastosowanie magistrali IEEE 1149.4 do diagnostyki analogowych układów elektronicznych przy wykorzystaniu twierdzenia Tellegena. Elektronizacja nr 10/2001, s. 20-22.

2.    Bartosiński B.: Diagnostyka układów analogowych z wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo IEEE 1149.4. Pomiary Automatyka Kontrola 2002, nr 7/8, s. 17-20.

3.    Bartosiński B., Toczek W.: Some methods of diagnosis of analog circuit using mixed signal test bus IEEE 1149.4. Metrology and Measurement Systems. 2003 vol. 10, nr 2, pp. 157-172.

4.    Bartosiński B.: Metody pomiaru elementów pasywnych z wykorzystaniem układów STA400 wyposażonych w magistralę testującą mieszaną sygnałowo IEEE 11149.4. Pomiary Automatyka Robotyka 2004, nr 7/8 s. 56-60.

II. Referaty na konferencjach i kongresach publikowane w wydawnictwach zbiorowych:  

1.    Bartosiński B.: Zastosowanie magistrali IEEE 1149.4 do diagnostyki analogowych układów elektronicznych w oparciu o twierdzenie Tellegena. Krajowy Kongres Metrologii, KKM-2001. Warszawa, 24-27 czerwca 2001, t. 1, s. 189-192.

2.    Toczek W., Bartosiński B.: Strategie testowania układów analogowych z wykorzystaniem magistrali IEEE. V Szkoła-Konferencja Metrologia Wspomagana Komputerowo, MWK-2001. Rynia k/Warszawy, 21-24 maja 2001. t. 3, s. 165-170.

3.    Bemke I., Bartosiński B.: Stanowisko laboratoryjne do testowania układów cyfrowych wyposażonych w magistralę IEEE 1149.1 P roc. Joint IMEKO TC-1 & XXXIV MKM Conference 2002. Kształcenie w zakresie metrologii w obliczu wyzwań nowych technologii. Wrocław, 8-12 września 2002, vol. 2, s.309-316.

4.    Bartosiński B.: Zastosowanie układów testowych STA 400 z magistralą testującą mieszaną sygnałowo IEEE 1149.4 do diagnostyki układów analogowych . MWK' 2003. VI Szkoła-Konferencja Metrologia Wspomagana Komputerowo. Waplewo, 26-29 maja 2003. Warszawa: Inst. Podst. Elektron. Wydz. Elektron. WAT 2003 t. 2 Referaty, s. 209-214.

5.    Bartosiński B.: Stanowisko laboratoryjne do testowania analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem magistrali IEEE 1149.4. Zeszyty Naukowe Wydziału ETI P.G. nr 2 2004. Technologie Informacyjne nr 5, s. 785-792.  

6.    Kowalewski M., Bartosiński B.: Zastosowanie komputerów w Laboratorium Metrologii i Techniki Eksperymentu. W: Materiały Kongresowe. Kongres Metrologii KM-2004 ''Metrologia w procesie poznania''. Wrocław, 6-9 września 2004 t. 1 s. 51-54.